Microscopies électroniques TEM, MEB et LEEM/PEEM
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Plusieurs types de microscopies électroniques sont disponibles à l'IRAMIS :

  • - Microscopie à transmission (TEM : Transmission Electron Microscope), qui permet d'atteindre les plus hautes résolutions par diffusion/difffraction d'un faisceau d'électrons à travers un échantillon ultra-mince
  • - Microscopie MEB et MEB-FEG (SPAM et SIS2M), ou microscopie à balayage, pour laquelle un faisceau d'électrons balaye la surface  de l'échantillon permettant d'obtenir une image de sa surface. 
    Le canon à émission de champ (FEG : Field Emission Gun) permet d'obtenir une  très haute brillance pour une taille de source réduite.
  • - Microscopie LEEM (Low Energy Electron Microscopy / PEEM (PhotoEmission Electron Microscopy) au SPCSI.
    Dans La microscopiei LEEM, les électrons lents (énergie des électrons de quelques électron-volts, lors de l'interaction) sont rétrodiffusés à la surface d'un échantillon, que l'on peut ainsi visualiser avec une une très haute résolution.
    Ce microscope permet aussi l'image de la surface à partir des électrons photoémis suite à un éclairement laser ou rayonnement synchrotron (PEEM : Photo-Emission Electron Microscopy).
 
#122 - Màj : 03/01/2013
Technique (desc. gen.)
LEEM and XPEEM There are two basic PEEM conceptions, each of them are optimized according to its application. The first is based on the electron microscopy technology developed by Telieps and Bauer. The sample is negative biased relative to the objective lens, typically -20kV, as illustrated in right side figure. The lenses are magnetic. This concept has been commercially implemented by Elmitec GmbH, and with special geometries in SPECS GmbH product.
N. Barrett1 and O. Renault2
1  CEA DSM/IRAMIS/SPCSI, CEA Saclay, 91191 Gif-sur-Yvette, France 2  CEA-LETI, MINATEC, 17 rue des Martyrs, 38054 Grenoble Cedex 9, France Le rayonnement synchrotron apporte plusieurs dimensions nouvelles aux spectroscopies des photoélectrons.
Retour pages du LEDNA. Microscopie électronique à balayage : La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie électronique permettant l’observation de surface d’échantillon.
Voir aussi
P. Guenoun, C. Blot
See the PhD position opened in 2014 about this subject http://iramis.cea.fr/Pisp/patrick.guenoun/Greenmembranes.html Phase separation of polymer solution, induced by an abrupt quench in temperature, leads to a macroscopic segregation of phases. The growth of the phases and the associated structures when time elapses since the beginning of the quench are still badly known for hydrosoluble polymer solutions.
Principes et applications
Principe de la pyrolyse laser Il repose sur l’interaction en jets croisés entre un faisceau laser infrarouge CO2 et un flux de réactifs dans un réacteur sous atmosphère contrôlée.
Faits marquants scientifiques
27 août 2020
L’interaction de la lumière visible avec un objet métallique conducteur se traduit par un large spectre d’absorption, pouvant présenter des résonances "plasmon" qui correspondent à des oscillations collectives des électrons proches de la surface du métal.
14 mars 2007
  De l'idée fondatrice des nanotechnologies de R. Feynman "There's plenty of room at the bottom" a émergé une nouvelle discipline : "la physique des surfaces". Ce sujet est toujours très vivant aujourd'hui après l'émergence des multiples microscopies en champ proche et le développement actuel des nouvelles techniques d'imagerie.

 

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