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Microscopies électroniques TEM, MEB et LEEM/PEEM
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Plusieurs types de microscopies électroniques sont disponibles à l'IRAMIS :

  • - Microscopie à transmission (TEM : Transmission Electron Microscope), qui permet d'atteindre les plus hautes résolutions par diffusion/difffraction d'un faisceau d'électrons à travers un échantillon ultra-mince
  • - Microscopie MEB et MEB-FEG (SPAM et SIS2M), ou microscopie à balayage, pour laquelle un faisceau d'électrons balaye la surface  de l'échantillon permettant d'obtenir une image de sa surface. 
    Le canon à émission de champ (FEG : Field Emission Gun) permet d'obtenir une  très haute brillance pour une taille de source réduite.
  • - Microscopie LEEM (Low Energy Electron Microscopy / PEEM (PhotoEmission Electron Microscopy) au SPCSI.
    Dans La microscopiei LEEM, les électrons lents (énergie des électrons de quelques électron-volts, lors de l'interaction) sont rétrodiffusés à la surface d'un échantillon, que l'on peut ainsi visualiser avec une une très haute résolution.
    Ce microscope permet aussi l'image de la surface à partir des électrons photoémis suite à un éclairement laser ou rayonnement synchrotron (PEEM : Photo-Emission Electron Microscopy).
 

Maj : 03/01/2013 (122)

Voir aussi
P. Guenoun, C. Blot
See the PhD position opened in 2014 about this subject http://iramis.cea.fr/Pisp/patrick.guenoun/Greenmembranes.html Phase separation of polymer solution, induced by an abrupt quench in temperature, leads to a macroscopic segregation of phases. The growth of the phases and the associated ... Lire la suite »
Principes et applications
Principe de la pyrolyse laser Il repose sur l’interaction en jets croisés entre un faisceau laser infrarouge CO2 et un flux de réactifs dans un réacteur sous atmosphère contrôlée. Le transfert d’énergie provoque une ... Lire la suite »

 

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