Service de Physique de l'Etat Condensé
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Les oxydes fonctionnels, tels que les matériaux ferroélectriques ou mutilferroïques, sont actuellement très attracteurs, de par leur large diversité dans leurs propriétés physiques, qu’il est possible de moduler. L’étude de la structure de bande de couches minces d’oxydes est cruciale, car elle permet d’obtenir des informations sur leurs propriétés électroniques, qui peuvent varier en fonction de l’épaisseur de la couche mince, de l’état de contrainte mécanique de la surface, ou encore des interfaces oxyde/oxyde.
La croissance de couches minces d’oxydes est une étape primordiale. Le laboratoire Thales, possède une expertise internationalement reconnue dans l’élaboration d’oxydes multifonctionnels, aussi bien par ablation laser pulsé (PLD) que par épitaxie par jet moléculaire (MBE), développant ainsi des matériaux d’une grande qualité cristallographique. L’analyse des propriétés électroniques de ces matériaux requiert des techniques spectroscopiques avancées, tel que le MesoXcope implanté au SPCSI (Microscope de photoélectrons), qui offre une visualisation directe et simultanée de la structure électronique et chimique d’une zone d’intérêt, jusqu’à l’échelle microscopique. Un critère limitant de ces études est la contamination de ces échantillons lors du transfert entre le bâti de croissance et le microscope, tous deux sous ultra-haut vide, nécessitant un passage à l’air. Les méthodes de nettoyage, telles que les traitements chimique ou thermique, peuvent dégrader la perfection structurelle de la surface.
Le but de ce projet consiste donc à développer l’utilisation d’une valise de transfert, qui permettrait de transférer les échantillons sous ultra haut vide sans altérer la grande qualité de la surface de ces échantillons.
Institut Rayonnement Matière de Saclay