Outil de caractérisation des propriétés magnétiques à l’échelle nanométrique – CARAMEL
Le projet ANR CARAMEL a pour but de développer un outil unique de caractérisation des propriétés magnétiques de la surface de matériaux et à l’échelle nanométrique en combinant des capteurs magnetorésistifs nanométriques très sensibles et un microscope à force atomique. Cet outil vise 2 grandes applications innovantes : la nanométrologie magnétique et l’imagerie de la susceptibilité magnétique, qui auront potentiellement des retombées pour la caractérisation non destructive de matériaux et l’étude de structures magnétiques nanométriques.
 Bâtiment « Ultra bas bruit » magnétique à structure en bois
|
 Chambre amagnétique
|
L’objectif est ainsi de développer un outil original permettant la caractérisation et l’imagerie des propriétés magnétiques de surface avec une résolution submicronique. Ce nouveau type de microscope magnétique pourrait avoir des applications et un impact dans divers domaines, du fondamental à l’industriel. Il ouvre de nouvelles perspectives pour la caractérisation et l’analyse des matériaux, ayant pour enjeu le suivi in situ du comportement des matériaux, le contrôle non destructif, la nanométrologie ou l’étude des propriétés de nouveaux matériaux.
Le projet est soutenu par l’Agence Nationale de la Recherche (ANR) sous le numéro de subvention ANR-18-CE42-0001.
Contact CEA : Aurélie Solignac (SPEC/LNO).
The ANR CARAMEL project aims to develop a unique tool for characterizing the magnetic properties of the surface of materials at the nanometric scale by combining highly sensitive nanometric magnetoresistive sensors and an atomic force microscope. This tool aims at two major innovative applications: magnetic nanometrology and magnetic susceptibility imaging, which will have potential spin-offs for the non-destructive characterization of materials and the study of nanometric magnetic structures.
The objective is to develop an original tool allowing the characterization and imaging of surface magnetic properties with a submicronic resolution. This new type of magnetic microscope could have applications and an impact in various fields, from fundamental to industrial. It opens new perspectives for the characterization and analysis of materials, with the aim of monitoring in situ the behavior of materials, non-destructive testing, nanometrology or the study of the properties of new materials.
The project is supported by the french national research agency (ANR) under grant number ANR-18-CE42-0001.