Séminaire de l’axe 6 du DIM Analytics (Caractérisation Nanométrique) le Vendredi 7 septembre 2012 (9h30-17h). Amphi.du LNE (Laboratoire national de métrologie et d’essais) : 1 rue Gaston Boissier, 75015 Paris
Programme de la journée :
1) État des lieux des besoins dans le domaine de la caractérisation nanométrique (par les responsables de l’axe + invités du DIM « Des atomes froids aux nanosciences »)
2) Présentation des actions en cours en Île de France sur le développement analytique lié à la caractérisation nanométrique (par les partenaires du DIM Analytics)
3) Discussions sur les pistes de développement prioritaires et les collaborations possibles
Contact CEA : Eric Eliot