Un moyen d’aborder la problématique des matériaux sous irradiation est de conduire des études paramétriques sur matériaux modèles afin de déterminer les mécanismes de transformation mis en jeu et d’identifier les paramètres clés. La diffraction des rayons X (DRX), notamment en haute résolution, est une technique particulièrement adaptée à l’étude des matériaux irradiés. Des résultats obtenus sur différents matériaux tels que ZrO2, UO2, SiC, ZrC, MgO irradiés dans diverses conditions d’énergie (100 keV – MeV) et de température (de 80 K à 1073 K) seront présentés pour illustrer ce propos. Le couplage de la DRX avec des techniques de modélisation numérique sera également mis en avant.
CSNSM – Univ. Paris-Sud, CNRS/IN2P3, Université Paris-Saclay, Orsay