Les faisceaux d’ions multichargés sont des outils prometteurs pour sonder ou modifier la surface des matériaux. Focaliser ces faisceaux à des tailles micrométriques doit permettre de répondre aux exigences de la physique à l’échelle nanométrique. La technique de focalisation sous une forme de simple « entonnoir » en verre, au fonctionnement cependant surprenant, a récemment montré toute son efficacité. Lire la suite, (Version PDF).
Le laboratoire du DRECAM/CIRIL au GANIL.
