Un projet de microscopie X-PEEM (X-ray PhotoEmission Electron Microscopy) français est en cours de développement à ELETTRA (Trieste – Italie). Ce projet, initié par le CNRS, a pour but d’offrir à la communauté française un instrument de microscopie X-PEEM performant et de créer ainsi une forte communauté d’utilisateurs dans la perspective du synchrotron national SOLEIL. La microscopie X-PEEM est une technique en plein essor dans les sources synchrotron de troisième génération. Elle permet d’allier des techniques de microscopie (PEEM, LEEM, MEM..) et de spectroscopie (XPS, XAS..) à des résolutions spatiales inférieurs à 50nm. La microscopie X-PEEM est particulièrement adaptée pour l’imagerie des surfaces – interfaces et pour l’imagerie de domaines magnétiques.
Le microscope X-PEEM français est dans un premier temps installé à ELETTRA pour une durée de deux ans, avant son transfert final à SOLEIL à l’ouverture de la ligne MicroFocus – branche X-PEEM en 2008. L’instrument est actuellement en phase de test et de comissionning à ELETTRA sur la branche française de la ligne Nanospectroscopy.
La ligne et son microscope seront complètement ouverts aux utilisateurs, via le comité programme ELETTRA, à partir de Juin 2006 (limite de dépôt fin février 2006). Un quota de 50% du temps de faisceau sera strictement réservé aux projets français. Nous vous invitons et encourageons par conséquent à vivement soumettre des propositions d’expériences pour le second semestre 2006.
