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Imagerie parallèle du champ interne dans les condensateurs ferroélectriques à base de HfO2 pour l’électronique frugale
Stage M21 février 20276 moisDomaine, spécialité : Physique de la matière condensée Mots-Clés : Spectroscopie des photoélectrons Unité d’accueil : SPEC/LENSIS La résolution spatiale de XPEEM sera utilisée pour localiser et analyser chaque condensateur en fonction du biais appliqué pour définir l’état de polarisation en acquérant la série d’images…
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