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Emplois
Emplois
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Contrôle local et imagerie de domaines ferroélectriques dans de couches HfZrO2 à l’aide de la microscopie à force piézoélectrique (PFM) et la microscopie d’électrons (LEEM-PEEM)
Stage M2CEA Saclay, (91) Essonne, France3 février 20255 moisDomaine, spécialité : Physique des matériaux Mots-Clés : Surfaces, interfaces, imagerie, microscopie, PFM, LEEM, PEEM Unité d’accueil : SPEC/LENSIS Ce stage porte sur la caractérisation de domaines ferroélectriques (FE) dans de films d’oxyde d’hafnium et de zirconium (HZO). Nous proposons à l’étudiant(e) de se former et d’utiliser plusieurs techniques d’imagerie de surface (la microscopie à…
Thèses
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Caractérisation avancée des domaines ferroélectriques dans les couches minces à base de HfO2
LENSIS : Physique du solide, surfaces et interfacesParis-Saclay Physique en Île-de-France (EDPIF) SaclayFerroelectric random access memories (FeRAM) based on hafnium zirconium oxide (HZO) are intrinsically ultra-low power thanks to the voltage switching mechanism, the scaling potential of HZO to below…