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Contrôle local et imagerie de domaines ferroélectriques dans de couches HfZrO2 à l’aide de la microscopie à force piézoélectrique (PFM) et la microscopie d’électrons (LEEM-PEEM)
Stage M2CEA Saclay, (91) Essonne, France3 février 20255 moisDomaine, spécialité : Physique des matériaux Mots-Clés : Surfaces, interfaces, imagerie, microscopie, PFM, LEEM, PEEM Unité d’accueil : SPEC/LENSIS Ce stage porte sur la caractérisation de domaines ferroélectriques (FE) dans de films d’oxyde d’hafnium et de zirconium (HZO). Nous proposons à l’étudiant(e) de se former et d’utiliser plusieurs techniques d’imagerie de surface (la microscopie à…
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