Sonde active pour la microscopie optique en champ proche

Sonde active pour la microscopie optique en champ proche

Céline Fiorini, Ludovic Douillard, Fabrice Charra
BD
December 20 2024
August 22 2013

Sonde active pour la microscopie optique en champ proche et son procédé de fabrication

Sonde active pour microscopie optique en champ proche, caractérisée en ce qu'elle comporte une pointe métallique ou métallisée (PM) à l'apex de laquelle se trouve un bloc de dimensions nanométriques (BP) comprenant une matrice en polymère susceptible, ou contenant un hôte (MH) susceptible d'émettre, sous éclairage, un rayonnement lumineux (SH) de longueur d'onde différente de celle d'éclairage. Procédé de fabrication d'une telle sonde

Active probe for near-field optical microscopy and its manufacturing process
(WIPO link)

The invention relates to an active probe for near-field optical microscopy, characterized in that it comprises a metal or metallized tip (PM) at the apex of which a nanoscale body (BP) is located, said body comprising a polymer matrix capable of, or containing a host (MH) capable of, emitting, under illumination, light (SH) at a wavelength different from that of the illumination. Process for manufacturing such a probe.

Contact: F. Charra

Principle of the local optical near-field probe, based on nonlinear optical second-harmonic generation.