NIMBE

Nanosciences et Innovation
pour les Matériaux
la Biomédecine
et l'Énergie

Numéro d’identification: WO/2017/178209 (lien OMPI)
Numéro d’identification CEA BD
Année de dépôt : 13.04.2016
Date de publication : 19.10.2017

Procédé et appareil de positionnement d'un micro- ou nano-objet sous contrôle visuel

Procédé de positionnement d'un micro- ou nano-objet (SLM, F2D2) au-dessus d'un support plan (SAC) par déplacement effectué sous contrôle visuel, caractérisé en ce que : ledit micro- ou nano-objet est immergé dans un milieu transparent, dit milieu ambiant (MA), présentant un indice de réfraction n3; ledit support plan comprend un substrat transparent (SS) d'indice de réfraction n0>n3 sur lequel est déposée au moins une couche optiquement absorbante (CA), adaptée pour se comporter en tant que revêtement antireflet lorsqu'elle est éclairée en incidence normale à une longueur d'onde d'éclairage λ à travers ledit substrat; et le contrôle visuel comprend l'éclairage dudit micro- ou nano-objet au moins à ladite longueur d'onde λ à travers ledit substrat, et son observation également à travers ledit substrat. Application d'un tel procédé à la microscopie à balayage par sonde locale et à l'assemblage de nanostructures.

Contact : S. Campidelli, (NIMBE/LICSEN).

Method and apparatus for positioning a micro- or nano-object under visual observation (WIPO link)

Method for moving a micro- or nano-object (SLM, F2D2) into position above a planar holder (SAC) under visual observation, characterized in that: said micro- or nano-object is submerged in a transparent medium, called the ambient medium (MA), having a refractive index n3; said planar holder comprises a transparent substrate (SS) of refractive index n0>n3 on which is deposited at least one optically absorbent layer (CA) that is able to behave as an antireflection coating when illuminated at normal incidence at an illuminating wavelength λ through said substrate; and the visual observation comprises illuminating said micro- or nano-object at least at said wavelength λ through said substrate, and also observing it through said substrate. Application of such a method to scanning probe microscopy and to the assembly of nanostructures.

Contact: S. Campidelli, (NIMBE/LICSEN).