Procédé et dispositif d’évaluation non destructrice de défauts dans un objet métallique
L’invention concerne un dispositif d’évaluation non destructrice de défauts dans un objet métallique (2) par courants de Foucault, comprenant un émetteur de champ (3) destiné à émettre un champ électromagnétique alternatif à une première fréquence fi au voisinage de l’objet métallique (2), et un capteur magnétorésistif (1) permettant de détecter un signal de réponse constitué par un champ électromagnétique de retour qui est de nouveau émis par les courants de Foucault induits par le champ électromagnétique alternatif dans l’objet métallique (2). Le dispositif comprend en outre : un circuit d’entraînement (230) permettant d’entraîner le capteur magnétorésistif (1) par un courant à une seconde fréquence fc qui est différente de la première fréquence fi, de sorte que le capteur magnétorésistif (1) fait office de modulateur in situ ; un détecteur permettant de détecter un signal de réponse entre les bornes du capteur magnétorésistif (1); un filtre permettant de filtrer le signal de réponse détecté par le capteur magnétorésistif (1) pour conserver soit la somme de fréquences (fi+fc) des première et seconde fréquences ou la différence de fréquences (fi-fc) des première et seconde fréquences, et un processeur permettant de traiter le signal de réponse filtré et d’extraire les informations de courants de Foucault concernant les défauts de l’objet métallique (2).
Method and device for non destructive evaluation of defects in a metallic object (Lien WIPO)
A device for non destructive evaluation of defects in a metallic object by eddy currents, comprises a field emitter for emitting an alternating electromagnetic field at a first frequency fi in the neighbourhood of the metallic object, and a magnetoresistive sensor for detecting a response signal constituted by a return electromagnetic field which is re-emitted by eddy currents induced by the alternating electromagnetic field in the metallic object. The device further comprises: a driving circuit (230) for driving the magnetoresistive sensor by a current at a second frequency fc which is different from the first frequency fi, so that the magnetoresistive sensor acts as an in situ modulator; a detector for detecting a response signal between the terminals of the magnetoresistive sensor; a filter for filtering the response signal detected by the magnetoresistive sensor to keep either the frequency sum (fi+fc) of the first and second frequencies or the frequency difference (fi-fc) of the first and second frequencies, and a processor for processing the filtered response signal and extract eddy current information on defects in the metallic object.
Contact: C. Fermon et M. Pannetier-Lecoeur
