Ce séminaire est destiné aux étudiants de thèse et aux chercheurs intéressés par les méthodes de traitement de données de diffraction de rayons X et neutrons. Le séminaire sera constitué d’une introduction aux différents aspects du traitement de données tels qu’ils sont implémentés dans la FullProf Suite. Une partie importante sera consacrée aux méthodes de traitement des données de diffraction sur poudre: l’indexation automatique, la création de fichiers de résolution instrumentale, analyse de microstructure, extraction d’intensités intégrées pour la résolution de structures avec la méthode du « recuit simulé », l’utilisation de groupes rigides et de contraintes molles (restraints), le traitement de grandes quantités de données par affinements séquentiels.
L’utilisation de FullProf pour l’analyse des données de monocristaux sera présenté succinctement: utilisation de DataRed pour la réduction de données, le maclage, contamination avec l/2, etc.
Finalement, les nouveaux outils introduits dans la FullProf Suite pour analyse des structures, tel que calculs de distances, angles, valences des liaisons (Bond Valence Sums) et visualisation, seront présentés et discutés.
Pour les personnes intéressées il est prévu de prolonger le séminaire au-delà de la durée normale (1 heure) pour discuter plus en détail les différents aspects de l’utilisation des programmes.
LLB