La diffraction en incidence rasante permet de sonder la structure et la microstructure des matériaux sur des épaisseurs variant de quelques dizaines de nanomètres à quelques microns. Cette technique est mise en ½uvre au sein du LRC CARMEN depuis une dizaine d’années. Nous nous sommes en particulier attachés à identifier et formaliser les différentes aberrations instrumentales résultant de cette configuration. Ceci nous a permis d’adapter un programme d’analyse Rietveld permettant d’extraire des informations sur la structure et la microstructure des matériaux en fonction de la profondeur de pénétration des rayons X. Nous présenterons l’application de cette méthode d’analyse pour suivre l’évolution de matériaux irradiés par des faisceaux d’ions simulant des irradiations en réacteurs nucléaires.
CNRS/ECP/SPMS UMR 8586/ LRC CARMEN, Ecole Centrale de Paris