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Univ. Paris-Saclay
Plateforme spectro-microscopies UHV / Ultra-High Vacuum spectro-microscopy caracterization
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Plateforme spectro-microscopies UHV / Ultra-High Vacuum spectro-microscopy caracterization

Microscope STM, LEEM-PEEM et MesoXcope de la plateforme de caractérisation UHV de l'IRAMIS.

Identifier proprement la structure, la caractérisation chimique et les propriétés physiques des objets à l'échelle atomique et moléculaire demande le plus souvent de travailler sous ultra-vide, afin d'éviter toute contamination et sans interférence avec un dispositif de protection (surcouche, encapsulation, …).

L'IRAMIS/SPEC implanté sur le Centre de Saclay dispose d'un ensemble d'appareils de caractérisation :

  • Spectromètres XPS
  • Microscope à effet tunnel (STM) sous ultra-vide
  • Microscope AFM-STM permettant des mesures simultanées de topographie et de conduction.
  • Microscope électronique à électrons lents (LEEM) permettant une imagerie instantanée des surfaces à l'échelle nanométrique.
  • Microscopies de photo-électrons permettant l'étude plasmonique et l'imagerie chimique des surfaces et nano-objets.

Cet ensemble est accessible pour la réalisation de projets scientifiques et aux entreprises, par l'intermédiaire de collaborations financées avec les équipes spécialistes de chacun de ces instruments.

Description technique et pages scientifiques associées.

Contact : Luc Barbier.


Ultra-High Vacuum spectro-microscopy caracterization

Properly identify the structure, the chemistry and the physical properties of objects at the atomic and molecular scale requires studies under ultra high vacuum to avoid contamination and any interference with a protective device (overlay, encapsulation , ...).

IRAMIS / SPEC located on the CEA Saclay Center offers a set of such characterization equipments:

  • XPS spectrometers
  • Tunneling microscope (STM) under ultrahigh vacuum
  • AFM-STM for simultaneous measurements of topography and conduction.
  • Low Energy Electron Microscope (LEEM) allowing instant imaging surfaces at the nanoscale.
  • Photo-electron microscopy (PEEM) to study plasmonic and chemical imaging of surfaces and nano-objects.

This set is available for the realization of technical and scientific projects, through funded collaborations with the specialist teams in charge of each of these instruments.

- Technical description and associated scientific pages.

Contact : Luc Barbier.

 
#2107 - Màj : 26/09/2015

 

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