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Univ. Paris-Saclay

Valorisation Partenariats et Propriété Industrielle



Fiches technologiques  

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Tri par article

Septembre 2021

Jouer du SAXS pour caractériser des nanoparticules

 Sommaire

Mai 2021

CiCLOp : de nouvelles sources de faisceaux d’ions pour les semi-conducteurs

 Sommaire

  • Faisceaux d’ions focalisés - sources FIB
  • Gravures, dépôt de matière, dopage
  • Collaboration CIMAP - Orsay Physics

 

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