Laboratoire Léon Brillouin
UMR12 CEA-CNRS, Bât. 563 CEA Saclay
91191 Gif sur Yvette Cedex, France
+33-169085241 llb-sec@cea.fr
3 STM et 1 STM-AFM OMICRON, tous sous ultravide :
Un LEEM-PEEM (Low Energy Electron Microscopy - Photo-Emission Electron Microscopy) ELMITEC complète le parc STM-UHV. Cet appareil (2 ex. en France), permet par son optique électronique (proche de celle d'un microscope électronique à transmission) d'obtenir des images de surfaces à l'échelle de 10 nm. Pour ceci les électrons issus d'une source de haute énergie (20 keV) sont ralentis pour interagir avec la surface à très faible énergie, puis ré-accéléré pour former une image dans l'espace direct à travers une optique électronique (LEEM). De même les électrons émis par photoémission permettent d'obtenir une image de la surface (PEEM). Cet appareil se caractérise par son excellente résolution spatiale.
Un dispositif expérimental de photodiffraction UHV (XPD) complète la plateforme. La technique donne accès à l'ordre structural et chimique local.
Par collaboration avec les équipes du CEA-LETI (Grenoble), le SPCSI a un accès régulier à un PEEM OMICRON-FOCUS de 1ère génération, dédié à l'analyse chimique des surfaces, en particulier lors de campagnes de mesure auprès des divers synchrotrons européens (accordabilité et intensité du faisceau lumineux).
Ce parc de caractérisation UHV des surfaces sera complété (printemps 2013) par un "MesoXope" , appareil de type PEEM, dont les performances sont optimisées pour permettre la cartographie chimique à haute résolution spatiale des surfaces.
Chaque appareil de cet ensemble est accessible, par l'intermédiaire de collaborations avec les équipes spécialistes de chacun de ces instruments, accompagnée, soit d'une participation aux frais de maintenance, soit via le dépôt de projets auprès des organismes de financement de la recherche (ANR, RTRA, etc...).