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Univ. Paris-Saclay
Fiches technologiques "Traitement de surface"
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Analyse rapide de revêtements anticorrosion

  • Contrôle non destructif
  • R&D dans les secteurs de l’automobile, l’aérospatial, l’électronique
  • Suivi de production
  • Laboratoire NIMBE/LICSEN

Procédé ThinMet® : Une version imprimée du procédé de cuivrage chimique (Electroless)

  • Procédé d'impression d'une encre catalytique métallisable
  • Pistes de cuivre purement métallique
  • Plastiques souples (PET, PVC, …)
  • Compatible jet d’encre (prototypage et série), Flexographie (Grande série) et Fabrication continue R2R

SEEP 2 : Surface Electro-initiated Emulsion Polymerization 2

  • Protection de surface
  • Greffage de polymères
  • Procédé acqueux quantitatif

Film polymère sur substrats conducteurs

  • Pour tous supports conducteurs
  • Réaction en milieu aqueux sans solvants organiques
  • Film homogène et conforme à la surface

Film polymère modulable au support

  • Greffage polymère résistant sur tout support
  • Réaction en milieu aqueux sans solvants organiques
  • Procédé Graftfast®

 

Procédé de fonctionnalisation de nano-objets en carbone

  • Matériaux composites
  • Photovoltaïque
  • Capteurs - biocapteurs
  • Catalyse – photo catalyse

 

Des revêtements homogènes et fonctionnels

  • Métallisation des plastiques
  • Appareils et dispositifs médicaux
  • Traitement d'effluents
  • Cosmétiques, Textiles, Electronique...

 

Procédé jet d'encre de métallisation des plastiques

  • Métallisation des plastiques en pleine surface sans chrome VI
  • Compatible Jet d'encre
  • PET, PVC, ABS, ABS/PC, Kapton
  • Electronique imprimée, flexible, Photovoltaïque, RFID, Design

 

Nouveau procédé pour immobiliser et détecter des molécules biologiques

  • Analyse biologique
  • Traitement de surface

 

SEEP : Surface Electroinitiated Emulsion Polymerization

  • Revêtement de surface
  • Fonctionnalisation de surface
  • Greffage de films minces de polymère

 

CiCLOp : de nouvelles sources de faisceaux d’ions pour les semi-conducteurs

  • Faisceaux d’ions focalisés - sources FIB
  • Gravures, dépôt de matière, dopage
  • Collaboration CIMAP - Orsay Physics
 
#3208 - Màj : 09/05/2023

 

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