CEA
CNRS
Univ. Paris-Saclay

Service de Physique de l'Etat Condensé

Brevets 2021

11 novembre 2021
Barrett Nick, Comparat Daniel, Amiaud Lionel, Lafosse Anne, Hahn Raphael, Fedchenko Olena, Shoenhense Gerd, Picard Yan

Numéro d’identification WO2021/224079 A1 (lien WIPO)
Numéro d’identification CEA : BD20317            
Année de dépôt : 05/05/2020
Date de publication : 11.11.2021

Source pulsée d'électrons et système d'analyse de surface comprenant une telle source pulsée

L'invention concerne un système d'analyse de surface d'un matériau comprenant: - une source pulsée d'électrons (10) formant un faisceau monochromatique d'électrons incidents (100); - des moyens d'acheminement (20) des électrons incidents (100) vers la surface d'un échantillon de matériau (55), de manière à former des électrons rétrodiffusés (110), et des électrons rétrodiffusés (110) vers des moyens de détection, lesdits moyens d'acheminement comprenant au moins une optique électronique; - des moyens de détection (30) des électrons rétrodiffusés (110); ladite source pulsée d'électrons comprenant : - une source d'atomes (16); - un faisceau laser continu (15) configuré pour former une zone d'excitation laser (15a) apte à exciter les atomes (16) vers des états de Rydberg; - un champ électrique pulsé (F) de part et d'autre de la zone d'excitation laser, configuré pour ioniser au moins les atomes excités et former un faisceau d'électrons (100) monochromatique.

 Contact :  Barrett Nick (SPEC/LENSIS)


Pulsed electron source and surface analysis system comprising such a pulsed source (WIPO link)

The invention relates to a system for analysing the surface of a material, comprising: - a pulsed electron source (10) forming a monochromatic beam of incident electrons (100); - means (20) for conveying incident electrons (100) to the surface of a material sample (55) in such a way as as to form backscattered electrons (110), and backscattered electrons (110) to detection means, the conveying means comprising at least one electron optic; - means (30) for detecting backscattered electrons (110); the pulsed electron source comprising: - a source of atoms (16); - a continuous laser beam (15) configured to form a laser excitation zone (15a) capable of exciting the atoms (16) into Rydberg states; - a pulsed electric field (F) on either side of the laser excitation zone, designed to ionise at least the excited atoms and to form a monochromatic electron beam (100).

 Contact :  Barrett Nick (SPEC/LENSIS)

25 mars 2021

Numéro d’identification: WO/2021/053033 (lien OMPI)
Numéro d’identification CEA : BD19517
Année de dépôt : 12-09-2019
Date de publication : 25-03-2021

Un aspect de l'invention concerne un empilement magnétorésistif (1) comprenant : - Une couche de référence (2) comprenant : • Une couche magnétique (21), • Une couche antiferromagnétique (24) en couplage d'échange avec la couche magnétique (21), • Une couche magnétique (22) sensiblement de même aimantation que la couche magnétique (21), • Une couche espaceur (23) entre les couches magnétiques (21, 22) d'épaisseur permettant un couplage antiferromagnétique entre les couches magnétiques (21, 22) d'une première intensité de couplage, - Une couche libre (3) de coercivité inférieure à 10 microTesla, la couche libre (3) comprenant : • Une couche magnétique (32), • Une couche antiferromagnétique (34) en couplage d'échange avec la couche magnétique (32), • Une couche magnétique (31) sensiblement de même aimantation que la couche magnétique (32), • Une couche espaceur (33) entre les couches magnétiques (31, 32) d'épaisseur permettant un couplage antiferromagnétique entre les couches magnétiques d'une deuxième intensité de couplage inférieure à la première intensité de couplage, - Une troisième couche espaceur (4) séparant la couche de référence (2) et la couche libre (3).

04 mars 2021

Numéro d’identification: WO/2021/041093 (lien OMPI)
Numéro d’identification CEA : BD19991
Année de dépôt : 28-08-2019
Date de publication : 04-03-2021

Selon un aspect de l'invention, un capteur d'angle de champ magnétique comprenant une structure de pont qui comporte un pont de sinus configuré pour générer un signal sinusoïdal indicatif d'un champ magnétique le long d'un premier axe et un pont de cosinus configuré pour générer un signal cosinusoïdal indicatif du champ magnétique le long d'un second axe qui est orthogonal par rapport au premier axe. L'un du pont de sinus ou du pont de cosinus comprend un premier ensemble d'au moins deux éléments de magnétorésistance, un deuxième ensemble d'au moins un élément de magnétorésistance, un troisième ensemble d'au moins un élément de magnétorésistance et un quatrième ensemble d'au moins un élément de magnétorésistance. Une direction de référence moyenne du premier ensemble d'au moins deux éléments de magnétorésistance est égale à une direction de référence moyenne du troisième ensemble d'au moins un élément de magnétorésistance.

30 septembre 2021

Numéro d’identification WO/2021/191119 (lien WIPO)
Numéro d’identification CEA : BD18812            
Année de dépôt : 22/03/2021
Date de publication : 30/09/2021

Procédé de détection de spins par comptage de photons

Procédé de détection de spin dans un échantillon (E) comprenant l'excitation des spins (SE) de l'échantillon au moyen d'une impulsion électromagnétique (IS) radio- ou hyperfréquence de basculement des spins et la détection d'un signal de bruit produit par le retour à l'équilibre des spins au moyen d'un dispositif (CP) de comptage de photons à radiofréquence ou hyperfréquence.

 Contact :  Patrice Bertet et Emmanuel Flurin (SPEC/GQ).


Method for detecting spins by photon counting (WIPO link)

The invention relates to a method for detecting spin in a sample (E), involving exciting spins (SE) in said sample by means of an electromagnetic radio frequency or ultra-high frequency spin-flip pulse (IS) and detecting a noise signal produced by the return to equilibrium of the spins by means of a device (CP) for counting photons at radio frequency or ultra-high frequency.

 Contact:  Patrice Bertet et Emmanuel Flurin (SPEC/GQ).

 

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