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Les archives de l'IRAMIS et du DRECAM / Archives of DRECAM and IRAMIS › Matériaux, surfaces et nanostructures Physique, chimie, nanosciences et matériaux autour des grands instruments
• Institut Rayonnement Matière de Saclay • IRAMIS: Saclay Institute of Matter and Radiation • Service de Physique et Chimie des Surfaces et des Interfaces
• Laboratoire des Interfaces et Surfaces d'oxydes (LISO)
• Microscopies à sonde locale • Microscopie à force atomique - AFM • Microscopies électroniques TEM, MEB et LEEM/PEEM
Représentation schématique de la sonde
à capteur piézo-électrique intégré pour déterminer les
interactions chimiques au niveau moléculaire.
Numéro d’identification: WO 2012/084994 (lien OMPI)
Numéro d’identification CEA: BD
Année de dépôt : 22-12-2010
Date de publication : 28-06-2012
Sonde de microscope à force atomique, son procédé de préparation et ses utilisations
La présente invention concerne une sonde de microscope à force atomique comprenant un résonateur piézo-électrique muni de deux électrodes et revêtu d'une couche isolante et une pointe fixée sur ledit résonateur revêtu et fonctionnalisée par au moins un groupement ou une molécule d'intérêt. La présente invention concerne également son procédé de préparation et ses différentes utilisations.
Atomic force microscope probe, method for preparing same, and uses thereof
(WIPO link)
The present invention relates to an atomic force microscope probe which includes: a piezoelectric resonator provided with two electrodes and coated with an insulating layer; and a tip attached to said coated resonator and functionalized by at least one grouping or molecule of interest. The present invention also relates to the method for preparing same and to the various uses thereof.
Contact: J. Polesel
