JECR 2010



Conférenciers invités

Pr R. Barillon CNRS, IRES, Strasbourg Trace latente et fluorescence induites par des ions dans des détecteurs organiques solides.
Dr L. Berthon CEA, DEN, Marcoule Impact de la radiolyse sur les systèmes extractants : conséquences sur la composition du solvant et ses performances.
Dr A. Dannoux CEA, DEN, Saclay Polymères sous irradiation : analyse de produits de dégradation hydrosolubles.
Pr M. Davidkova République Tchèque Radiolyse des complexes spécifiques ADN-protéines.
Dr CW Hagen Université Technologique de Delft, Pays-Bas Dépôt induit par faisceaux d'électrons, un outil pour le nano-prototypage.
Dr L. Pain MINATEC, CEA, LETI, Grenoble Le potentiel de la lithographie électronique : du CMOS à l' "exotisme" de la lithographie traversante.
Dr B. Pastina Saanio & Riekkola Oy, Finlande La chimie sous rayonnement et le stockage direct en profondeur : questions et opportunités.
Pr A. Lafosse Univ Paris 11, LCAM Chimie induite par électrons de basse énergie (0-20 eV) et mécanismes élémentaires.
Dr C. Sicart-Roselli Univ. Paris 11, LCP Protéines et radicaux oxydants : quels types de dommages pour quelles conséquences?
Dr S. Yamashita JAEA, Tokai, Japon Radiolyse de l'eau avec les faisceaux d'ions continus du HIMAC




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JECR 2010, 15èmes Journées d'Etudes de la Chimie sous Rayonnement
26-28 mai 2010, Bordeaux, Cellier des Chartrons
Organisées par le Laboratoire de Radiolyse du CEA/Saclay, dans le cadre du Réseau CEA Radiolyse
avec la participation du CENBG

Invités