La spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS) est une technique d’analyse de surface qui fournit des propriétés chimiques et électroniques. Par l’effet photoélectrique, des photoélectrons sont éjectés de la surface éclairée par une source de rayons X. Ils ont une énergie de liaison caractéristique qui dépend de l’élément, de l’orbitale et de l’environnement chimique de l’atome. Ils ont une énergie de liaison caractéristique qui dépend de l’élément, de l’orbitale et de l’environnement chimique de l’atome.
Cette technique permet de détecter pratiquement tous les éléments présents à la surface (profondeur de sondage de 1 à 10nm).
Dans le cadre des études de notre laboratoire, la XPS est particulièrement adaptée à l’identification des liaisons chimiques montrant la fonctionnalisation des surfaces et des matériaux et au calcul des rapports stœchiométriques des couches minces.
Notre laboratoire est équipé d’un Kratos Axis Ultra DLD
Cet équipement est ouvert aux collaborations intra- et extra-IRAMIS.
Contact principal : Jocelyne Leroy