Analyse de matériaux en couches minces par réflexion X (XRR) en combinaison avec la fluorescence X en incidence rasante (GIXRF)
Yves Ménesguen
CEA - LNHB
Jeudi 16/06/2022, 11:00-12:30
NIMBE Bât 546, p.21, CEA-Saclay


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Contact : Corinne CHEVALLARD

 

 

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