invité par Celine FIORINI

Abstract :

L’étude des propriétés singulières de nanoparticules colloïdales synthétisées par voie chimique et leur intégration  dans  des  nano-composants  requiert  leur  assemblage  dirigé  sur  des  zones  parfaitement définies et localisées de surfaces solides. Au cours de ce séminaire, je présenterai une méthode d’assemblage  dirigé  originale:  la  nanoxérographie  par  microscope  à  force  atomique  (AFM).  Cette technique consiste à injecter localement, sur des zones spécifiques, des charges électrostatiques dans un matériau électret par l’intermédiaire d’une pointe d’AFM. Ces charges servent ensuite de pièges électrostatiques  sur  la  surface  pour  les  nanoparticules  en  solution.  Dans  le  cadre  de  ce  travail, l’injection,  la  rétention  de  charges  dans  de  fines  couches  électrets  de  PolyMéthylMéthAcrylate (PMMA) et la quantification des densités de charges surfaciques des motifs chargés, ont été étudiées grâce  au  mode  électrique  dérivé  de  l’AFM,  le  microscope  à  force  Kelvin  (KFM).  L’étude  de l’assemblage de nanoparticules de différentes natures (métal, polymère (organique ou inorganique)), de taille moyenne variable dans un large domaine (2 nm - 1µm) et de potentiel zêta contrôlé a permis d’analyser  les  mécanismes  de  dépôt  et  de  montrer  les  performances  de  la  méthode  et  son  aspect générique. Enfin deux techniques d’injection de charges parallèles ont été mises en place afin d’offrir des perspectives industrielles: le microcontact printing électrique et la nanoimpression électrique.