Principle of the local optical near-field probe, based on nonlinear optical second-harmonic generation.
Numéro d'identification : WO/2013/121324 (Lien OMPI et fichier PDF associé)
Numéro d'identification CEA BD
Année de dépôt : 01-2011
Date de publication : 22-08-2013
Sonde active pour la microscopie optique en champ proche et son procédé de fabrication
Sonde active pour microscopie optique en champ proche, caractérisée en ce qu'elle comporte une pointe métallique ou métallisée (PM) à l'apex de laquelle se trouve un bloc de dimensions nanométriques (BP) comprenant une matrice en polymère susceptible, ou contenant un hôte (MH) susceptible d'émettre, sous éclairage, un rayonnement lumineux (SH) de longueur d'onde différente de celle d'éclairage. Procédé de fabrication d'une telle sonde
Active probe for near-field optical microscopy and its manufacturing process
(WIPO link)
The invention relates to an active probe for near-field optical microscopy, characterized in that it comprises a metal or metallized tip (PM) at the apex of which a nanoscale body (BP) is located, said body comprising a polymer matrix capable of, or containing a host (MH) capable of, emitting, under illumination, light (SH) at a wavelength different from that of the illumination. Process for manufacturing such a probe.
Contact: F. Charra
• Institut Rayonnement Matière de Saclay • UMR 3680 - Laboratory of Condensed Matter Physics (SPEC) • UMR 3680 - Service de Physique de l'Etat Condensé (SPEC)
• Laboratoire d'Electronique et Photonique Organique (LEPO) • Laboratory for Electronics and Photonics in Organics (LEPO)