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Univ. Paris-Saclay
Atomic structure of 6H-SiC(000-1) (2×2)-Si and (3×3)-C surfaces and the initial reaction processes with ultrathin Ni
Yasushi HOSHINO
Institut des NanoSciences de Paris (INSP)
Jeudi 08/06/2006, 11:00
SPEC Bât 466 p.111 (1er ét.), CEA-Saclay
Silicon carbide is one of the most promising candidates for electronic and optical power devices. To understand the growth of thin metal films and the properties of contacts on SiC surfaces, it is necessary to study the metal/semiconductor interaction on well controlled surfaces from the initial stages. Indeed, in the case of Schottky Barrier for example, the interfacial electronic properties strongly depend on the initial surface condition, the interfacial structure and the composition of reacted layers. In this view, high-resolution medium energy ion scattering (MEIS) with an atomic layer resolution is one of the most powerful tools to determine the atomic configuration and depth profiles near the surface region, whereas Photoemission Spectroscopy using synchrotron radiation (SR-PES) gives deeper insight into the electronic properties of the surface.
We present our study on the initial growth process of Ni on well-defined hexagonal silicon carbide surfaces (6H-SiC(000-1) (2×2)-Si and (3×3)-C surfaces). Using MEIS and SR-PES. We determine the atomic structure and electronic properties of both clean and Ni-adsorbed surfaces.

 

 

Séminaire SPCSI - Informations pratiques

Entrée sur le site du CEA de Saclay pour les séminaires SPCSI

Afin de pouvoir entrer sur le site du CEA de Saclay veuillez adresser les données personnelles suivantes par courriel à Christine Prigian et Catherine Julien (secrétariat) un avis d’entrée vous sera alors délivré:

 

Nom:

 

 

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Date et lieu de naissance:

Nationalité:

Nom de l'employeur:

 

Ces informations doivent être envoyées au mieux deux jours avant la date du séminaire.

Lors de votre venue vous devez vous présenter avec une carte d'identité ou un passeport en cours de validité. L'entrée sur le site se fait par l'entrée principale ou porte Nord (suivre le lien ci-dessous), un badge vous y sera remis. Demandez à l'accueil le Bât.466, ils vous renseigneront.
Les séminaires se déroulent au Bât. 466, pièce 111 (1er étage).
En cas de problème vous pouvez contacter le secrétariat au : 01 69 08 65 32 /  40 12.


Formalities for entering the CEA Saclay site for SPCSI seminars

 

 

To enter in CEA Saclay you need to send the following personal data to Christine  PRIGIAN and Catherine Julien (secretariat):

 

 

Informations utiles/Practical informations - Contact

Informations:  Access



 

Contact: Christine Prigian et Catherine Julien

 

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First Name :

Place and date of birth :

Nationality :

Employer Name :

These informations must be preferably sent at least two days before the seminar date.

 

When you come you must have a valid ID card or passport with you.

The entrance in CEA Saclay is through the main entrance or north entrance (see link below), a pass will be delivered. Ask at the “accueil” the path for the building 466. SPCSI seminars take place in room 111 (first floor).

Any questions/troubles do not hesitate to contact our secretariat : 33 (0)1 69 08 65 32 /  40 12.

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