Microscopie électronique à balayage :
La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie électronique permettant l’observation de surface d’échantillon.
Le LEDNA (Laboratoires Edifices Nanométriques) est doté d’un MEB-FEG Zeiss Ultra 55 équipé d’un canon à émission de champ (FEG pour Field Emission Gun), couplé à une analyse chimique EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) Bruker.
Contact : Emeline Charon ou Mathieu Pinault (NIMBE/LEDNA).
Microscopie électronique en transmission :
Le LEDNA a un accès privilégié aux plateformes de microscopie électronique à transmission de l’équipex TEMPOS et de la plateforme CIMEX de l’école polytechnique.