Univ. Paris-Saclay

Service de Physique de l'Etat Condensé

Brevet : Sonde active pour la microscopie optique en champ proche
Céline Fiorini, Ludovic Douillard, Fabrice Charra logo_tutelle 
Brevet : Sonde active pour la microscopie optique en champ proche

Principle of the local optical near-field probe, based on nonlinear optical second-harmonic generation.

Numéro d'identification : WO/2013/121324 (Lien OMPI et fichier PDF associé)
Numéro d'identification CEA BD
Année de dépôt : 01-2011 
Date de publication : 22-08-2013 

Sonde active pour la microscopie optique en champ proche et son procédé de fabrication

Sonde active pour microscopie optique en champ proche, caractérisée en ce qu'elle comporte une pointe métallique ou métallisée (PM) à l'apex de laquelle se trouve un bloc de dimensions nanométriques (BP) comprenant une matrice en polymère susceptible, ou contenant un hôte (MH) susceptible d'émettre, sous éclairage, un rayonnement lumineux (SH) de longueur d'onde différente de celle d'éclairage. Procédé de fabrication d'une telle sonde

 

Active probe for near-field optical microscopy and its manufacturing process
(WIPO link)

The invention relates to an active probe for near-field optical microscopy, characterized in that it comprises a metal or metallized tip (PM) at the apex of which a nanoscale body (BP) is located, said body comprising a polymer matrix capable of, or containing a host (MH) capable of, emitting, under illumination, light (SH) at a wavelength different from that of the illumination. Process for manufacturing such a probe.

Contact: F. Charra

 

Maj : 06/12/2013 (2202)

 

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