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Univ. Paris-Saclay
Séminaire de l’axe 6 du DIM Analytics et DIM Cnano-IFRAF
Vendredi 07/09/2012, 09:30

Séminaire  de l’axe 6 du DIM Analytics (Caractérisation Nanométrique) le Vendredi 7 septembre 2012 (9h30-17h). Amphi.du LNE (Laboratoire national de métrologie et d'essais) : 1 rue Gaston Boissier, 75015 Paris


Programme de la journée :

1) État des lieux des besoins dans le domaine de la caractérisation nanométrique (par les responsables de l’axe + invités du DIM "Des atomes froids aux nanosciences")

2) Présentation des actions en cours en Île de France sur le développement analytique lié à la caractérisation nanométrique (par les partenaires du DIM Analytics)

3) Discussions sur les pistes de développement prioritaires et les collaborations possibles

Contact CEA : Eric Eliot

Contact : Eric ELIOT

 

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