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Univ. Paris-Saclay
Mesure des champs de déformation/contrainte à une interface multi-contact frottante
Julien Scheibert
post-doc dans le groupe Fracture SPCSI
Vendredi 11/01/2008, 11:00
SPEC Bât 466 p.111 (1er ét.), CEA-Saclay
La compréhension complète de la mécanique d’un contact frottant nécessite la description du système à plusieurs échelles, allant de l’échelle macroscopique du contact apparent à l’échelle microscopique des processus dissipatifs élémentaires. Nous présenterons deux méthodes expérimentales qui permettent, pour un bloc élastomère en contact avec un substrat rigide, une mesure directe des champs de contrainte et de déplacement résolus à l’échelle d’une fraction de la taille du contact. La première méthode consiste à noyer un micro-capteur de force de type MEMS (Micro Electro Mechanical System) sous un film d’élastomère. Il est ainsi possible de mesurer directement les champs de contrainte sous un contact sous charge normale ou en glissement stationnaire. La confrontation quantitative de ces mesures aux champs calculés dans le cadre de modèles mécaniques simples nécessite de prendre en compte les effets de taille finie du système de mesure. La dynamique des champs de contrainte est également accessible pour des régimes non-stationnaires, tels que le « stick-slip », ou le frottement contre des substrats rugueux. Nous discuterons en particulier du cas des rugosités périodiques. La seconde méthode consiste à imager la zone de contact entre un substrat rigide lisse et un bloc d’élastomère rugueux à des échelles micrométriques. L’intensité lumineuse peut être reliée très simplement au champ de pression à l’interface, qui est bien décrit par le modèle de Greenwood-Tripp. Par une technique de DIC (Digital Image Correlation), il est possible de mesurer les déplacements à la surface de l’élastomère avec une résolution sub-micronique. Dans le cas de la transition charge-glissement, nous confrontons ces mesures aux prédictions du modèle de Mindlin-Cattaneo.

 

Séminaire SPCSI - Informations pratiques

Entrée sur le site du CEA de Saclay pour les séminaires SPCSI

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Les séminaires se déroulent au Bât. 466, pièce 111 (1er étage).
En cas de problème vous pouvez contacter le secrétariat au : 01 69 08 65 32 /  40 12.


Formalities for entering the CEA Saclay site for SPCSI seminars

 

 

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