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Microscopies électroniques au LEDNA
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Microscopie électronique à balayage :

La microscopie électronique à balayage (MEB ou SEM pour Scanning Electron Microscopy en anglais) est une technique de microscopie électronique permettant l’observation de surface d’échantillon.

Le LEDNA (Laboratoires Edifices Nanométriques) est doté d’un MEB-FEG Zeiss Ultra 55 équipé d’un canon à émission de champ (FEG pour Field Emission Gun), couplé à une analyse chimique EDX (Energy Dispersive X-ray Spectrometry) Bruker.

  • Résolution : 1 nm @15kV ; 1,7 nm @1kV ; 4 nm @0,1kV
  • Tensions : 0,1 à 30 kV
  • Grandissement : 12 à 900.000 x
  • Platine porte-échantillon motorisée 5 axes
  • Sas d’introduction pour échantillon massif
  • Résolution : visualisation de nanoparticules, de nanotubes de carbone (tapis / individuels)
  • Possibilité de faire des images sous angle (sur la tranche de l'échantillon).

Contact : Emeline Charon ou Mathieu Pinault (NIMBE/LEDNA).

 

Microscopie électronique en transmission :

Le LEDNA a un accès privilégié aux plateformes de microscopie électronique à transmission de l’équipex TEMPOS et de la plateforme CIMEX de l’école polytechnique.

 

Maj : 28/08/2018 (2909)

 

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