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Univ. Paris-Saclay
Brevet : Procédé de caractérisation spatio-spectrale d'une source laser impulsionnelle polychromatique
Fabien Quéré et Antonin Borot
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Numéro d’identification : WO/2018/197599 (lien OMPI)
Numéro d’identification CEA : BD17722
Année de dépôt : 27.04.2017
Date de publication : 01.11.2018


Procédé de caractérisation spatio-spectrale d'une source laser impulsionnelle polychromatique

Un aspect de l'invention concerne un procédé de caractérisation spatio-spectrale d'un faisceau d'une source laser impulsionnelle polychromatique, comportant, pour au moins des premier et deuxième plans du faisceau, les étapes suivantes : - imager le plan du faisceau au moyen d'un système imageur; - créer des première et deuxième répliques du faisceau au moyen de premier et deuxième bras d'un interféromètre à division d'amplitude; - recombiner les première et deuxième répliques du faisceau sur une caméra du système imageur, de manière à obtenir une image en deux dimensions spatiales ayant des motifs d'interférences spatiales; - mesurer cette image en fonction d'un délai τ entre les première et deuxième répliques pour l'obtention d'un interférogramme temporel en chaque point spatial de l'image, l'ensemble des interférogrammes temporels formant un interférogramme spatio-temporel; - calculer la transformée de Fourier 1D de chaque interférogramme temporel ou la transformée de Fourier 3D de l'interférogramme spatio- temporel, ladite transformée de Fourier comportant un pic fréquentiel central et deux pics fréquentiels latéraux; - filtrer ladite transformée de Fourier de manière à ne conserver que l'un des deux pics fréquentiels latéraux; le procédé comportant, pour chaque fréquence de la source laser impulsionnelle polychromatique, une étape de reconstruction du profil spatial de phase résolu en fréquence à partir d'un premier profil spatial d'amplitude résolu en fréquence obtenu pour le premier plan du faisceau et d'un deuxième profil spatial d'amplitude résolu en fréquence obtenu pour le deuxième plan du faisceau.

Contact : F. Quéré (LIDYL/PHI).


Method for spatio-spectral characterization of a polychromatic pulsed laser source  (WIPO link)

An aspect of the invention concerns a method for spatio-spectral characterization of a beam from a polychromatic pulsed laser source, comprising, for at least the first and second beam planes, the following steps: - imaging the beam plane using an imaging system; - creating first and second replicas of the beam using first and second arms of an amplitude division interferometer; - recombining the first and second replicas of the beam on a camera of the imaging system, so as to obtain an image in two spatial dimensions having spatial interference patterns; - measuring this image according to a time τ between the first and second replicas in order to obtain a temporal interferogram at each spatial point of the image, the set of temporal interferograms forming a spatio-temporal interferogram; - calculating the 1D Fourier transform of each temporal interferogram or the 3D Fourier transform of the spatio-temporal interferogram, said Fourier transform comprising a central frequency peak and two frequency side peaks; - filtering the Fourier transform so as to conserve only one of the two frequency side peaks; the method comprising, for each frequency of the polychromatic pulsed laser source, a step of reconstructing the frequency-resolved spatial phase profile using a first frequency-resolved spatial amplitude profile obtained for the first beam plane and a second frequency-resolved spatial amplitude profile obtained for the second beam plane.

Contact: F. Quéré (LIDYL/PHI).

 
#3139 - Màj : 23/08/2019

 

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