IRAMIS - Supports de cours
Dynamic Atomic Force Microscopy: from nonlinear regime to linear operation
ETH - Zurich - Switzerland - Jerome POLESEL
| • Lecture on Dynamic Atomic Force Microscopy : Lecture_Dynamic_AFM_ETHZ_Jerome-POLESEL_07072011.pdf (4.1 Mo) |
Introduction aux techniques de caractérisation pour les Nanotechnologies
Ecole Centrale d'Electronique (ECE) de Paris - Jerome POLESEL
| • Cours Introduction Méthodes Caractérisations pour les Nanotechnologies : Introduction_techniques_caracterisation_Nanotechnologies-ECE-PARIS-Jerome_POLESEL_14122010.pdf (12.4 Mo) |
Nouvelles approches pour la nano-caractérisation, et la micro- et nano- manipulation
Université Pierre et Marie Curie - Paris VI - Jussieu - Jerome POLESEL
| • Cours nano-caracux instruments à sondes localestérisation, et nouvea : cours_Jussieu_ParisVI_J-POLESEL_21092012_PDF.pdf (14.4 Mo) |
