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IRAMIS - Supports de cours

Dynamic Atomic Force Microscopy: from nonlinear regime to linear operation
ETH - Zurich - Switzerland - Jerome POLESEL
• Lecture on Dynamic Atomic Force Microscopy : Lecture_Dynamic_AFM_ETHZ_Jerome-POLESEL_07072011.pdf (4.1 Mo)
Introduction aux techniques de caractérisation pour les Nanotechnologies
Ecole Centrale d'Electronique (ECE) de Paris - Jerome POLESEL
• Cours Introduction Méthodes Caractérisations pour les Nanotechnologies : Introduction_techniques_caracterisation_Nanotechnologies-ECE-PARIS-Jerome_POLESEL_14122010.pdf (12.4 Mo)
Nouvelles approches pour la nano-caractérisation, et la micro- et nano- manipulation
Université Pierre et Marie Curie - Paris VI - Jussieu - Jerome POLESEL
• Cours nano-caracux instruments à sondes localestérisation, et nouvea : cours_Jussieu_ParisVI_J-POLESEL_21092012_PDF.pdf (14.4 Mo)

 

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